style="width:9.86008in;height:4.17318in" /> 本文是学习GB-T 15471-2013 逻辑分析仪通用规范. 而整理的学习笔记,分享出来希望更多人受益,如果存在侵权请及时联系我们
本标准规定了逻辑分析仪的术语、产品分类、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存等。
本标准适用于逻辑分析仪，也适用于具有逻辑插入单元或逻辑分析仪附属装置的测量仪器，外置式
的逻辑分析仪也可参照本标准。
下列文件对于本文件的应用是必不可少的，凡是注明日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文
件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T 191 包装储运图示标志
GB/T 3047.6 电子设备台式机箱基本尺寸系列
GB/T 6587—2012 电子测量仪器通用规范
GB/T 11463—1989 电子测量仪器可靠性试验
GB/T 18268(所有部分) 测量、控制和实验室用的电设备 电磁兼容性要求
下列术语和定义适用于本文件。
3.1
逻辑分析仪 logic analyzer
获取相对一个触发事件的数字逻辑信号，以各种方式显示这些信号并进行分析的测试仪器。其主
要特点是能以单通道(串行方式)或多通道(并行方式)进行记录并显示在触发事件前或触发事件后捕获
到的逻辑信号。
逻辑分析仪一般由输入、采集、存储、触发与控制、处理与显示等部分组成。
3.2.1
探头 probe
以软电缆连接，能将被测信号传输给仪器的输入装置。
3.2.2
输入阻抗 input impedance
逻辑分析仪在工作条件下对被测电路所呈现的负载。
3.2.3
输入电压范围 input voltage range
仪器能够正确识别和采集的输入信号电压范围。
3.2.4
最大输入电压 maximum input voltage
不损坏仪器的最大输入电压。超出该电压，仪器或探头可能会损坏。
GB/T 15471—2013
3.2.5
门 限 threshold
与输入信号比较的一种预选电压值。
注：任何比门限电压更正的输入电压被记录为逻辑高，而任何比门限电压更负的输入电压被记录为逻辑低。
3.2.5.1
门限灵敏度 sensitivity
在规定的信号持续时间内，对可检测信号所要求的最小电压值(见图1)。
style="width:9.86008in;height:4.17318in" />
图 1
3.2.5.2
双 门 限 dual threshold
具有两个预选门限的方式，即每个通道具有两个能与该通道输入信号进行比较的预选门限。
3.2.5.3
混合门限 mixed threshold
各通道或通道组合具有不同的门限调节值。
3.2.6
通道时滞 channel to channel skew
同一个信号在不同输入通道传输的时间差。
3.3.1
同步采集方式 synchronous mode
按与输入逻辑信号相位相关的外部时钟来取样输入逻辑信号的采集方式，也称为状态分析方式。
3.3.2
异步采集方式 asynchronous mode
取样输入逻辑信号的时钟与被测系统无关的采集方式，该方式也称为定时分析方式。
注：该方式下通常由内时钟取样。
3.3.3
最大定时取样速率 maximum timing sample rate
定时分析方式时，数据采集的最高有效速率，通常 用 Sa/s 表 示 。
3.3.4
最大状态时钟速率 maximum state clock rate
状态分析方式时，时钟通道输入的外部时钟的最大速率。
3.3.5
最小脉冲持续时间 minimum pulse duration
能被可靠检测到的最窄脉冲，见式(1)。
MPD=(1/ 时钟频率)+C
式中：
MPD—— 最小脉冲持续时间；
C —— 某一规定的常数。
3.3.6
建立时间 set-up time
GB/T 15471—2013
………………………… (1)
t
数据信号在时钟有效沿到来之前出现并稳定的时间，以保证数据被正确获取(见图2)。
注：建立时间允许有负值。
style="width:4.94672in;height:2.25324in" />建立时间
信号
时钟
图 2
3.3.7
保持时间 hold time
th
数据信号应该在有效时钟沿到来之后继续保持稳定的时间，以保证数据被正确获取(同图2)。
注：保持时间允许有负值。
3.3.8
毛刺 glitch
窄于规定的最小脉冲宽度的脉冲，
一般将宽度小于当前取样间隔的脉冲称为毛刺。
3.3.9
毛刺检测与锁定 glitch detect and latch
若检测到毛刺存在，则给出一个时钟宽度的脉冲(见图3)。
style="width:10.58056in;height:3.36667in" />
图 3
GB/T 15471—2013
3.4.1
存储深度 memory depth
一次存储采集数据的数量， 一般指每通道所存储数据位的数量。
3.4.2
限定存储 limited storage
采集的数据符合限定条件才存储。
3.5.1
触发事件 trigger event
对逻辑信号采集与存储进行控制或定位的一个事件或者一序列事件。触发事件可以由内部电路产
生，根据信号逻辑状态在内部获得，或从外部触发源获得。
3.5.2
触发字 trigger word
用于选择数据捕获窗口而设置的一种特定的数据字。
3.5.3
任意态 anything
给定的某通道的输入信号为任何状态均认为满足本通道的触发要求。
注： 一般情况下，若设触发字某位(即某通道)为任意态(常用"X"表示),则该位出现"1"或"0"均认为满足触发
要求。
3.5.4.1
字触发 word trigger
以采集数据中出现某特定的数据字为触发事件。
3.5.4.2
边沿触发 edge trigger
以某通道信号的跳变沿(上升或下降沿)为触发事件。
3.5.4.3
毛刺触发 glitch trigger
以某一个或多个通道中出现毛刺脉冲为触发事件。
3.5.4.4
组合字触发 combined word trigger
以采集数据中出现多个特定的数据字中的任意一个为触发事件。
3.5.4.5
序列字触发 sequential word trigger
以采集数据中依次出现某特定的数据字序列为触发事件。
3.5.4.6
序列触发 sequential trigger
以采集数据中依次出现特定的触发事件序列的触发方式。
注：该序列可以包括：字识别、边沿、毛刺等或它们的组合。
GB/T 15471—2013
3.5.4.6.1
触发序列等级 trigger sequence level
在序列触发中，序列事件的等级。
3.5.4.6.2
触发序列速度 trigger sequence rate
在序列触发中，相邻两级事件出现的最快速度。
3.5.4.7
随机触发 random trigger
没有任何条件的触发事件。
3.5.4.8
强制触发 compelled trigger
预设的触发事件没有出现时，在一定条件下，自动强迫仪器的触发。
3.5.4.9
手控触发 manual trigger
由手动控制引起的触发事件。
3.5.4.10
串行总线协议触发 serial bus protocol trigger
按照某一特定的串行通信数据格式(如：I²C、CAN、USB、SPI等)触发。
3.5.5.1
预触发 pre-trigger
触发事件出现前即开始采集并存储一定数量数据的触发方式，触发前的数据量一般用存储深度的
百分比表示，可以为0%～100%。
3.5.5.1.1
触发开始跟踪 start trace from trigger
触发事件出现后，才开始存储数据，即触发前的数据量为存储深度的0%。
3.5.5.1.2
触发终止跟踪 stop trace by trigger
触发事件出现后，就停止存储数据，即触发前的数据量为存储深度的100%。
3.5.5.2 延迟触发
3.5.5.2.1
数据延迟触发 data delay trigger
触发事件出现后并不立即触发，而是延迟一定量的数据后才触发的触发方式。
3.5.5.2.2
时间延迟触发 time delay trigger
触发事件出现后并不立即触发，而是延迟一定时间后才触发的触发方式。
3.5.5.3
限定触发 limited trigger
对设置的触发字再加以限定条件的触发方式。
GB/T 15471—2013
3.5.5.4
触发窗口 trigger window
对触发范围预选的上、下限。在该范围内的任何字的出现都能产生触发。
注：触发窗口也可以称为范围触发器(trigger range)。
3.5.5.5
超时强制触发 time out compelled trigger
预置一个时间间隔，超过该时间间隔，如果没有出现触发事件，将强迫产生触发事件。
3.5.5.6
定时禁止触发 time in prohibited trigger
预置一个时间间隔，在该时间间隔内，将不识别触发事件。
3.5.6
外触发输入 external trigger input
逻辑分析仪从外部获得的触发信号。
3.5.7
触发输出 trigger output
与触发事件时间相关的，可供外部使用的信号。
3.5.8
触发操作 trigger actions
触发后采取的操作选择，包括：触发、发送电子邮件、填入内存；存储/不存储；定时器和计数器控
制等。
3.6.1
数据显示 data display
以各种各样的格式来处理和显示所记录的数据。
注：数据可以在阴极射线管(CRT)显示器或 LCD
显示器上进行显示，显示器可以安装在逻辑分析仪的内部或外部。
3.6.2
定时图 timing diagram
以伪波形来表示所记录数据的状态与时间之间关系的波形(见图4)。
style="width:10.81997in;height:3.20012in" />信号
时钟
显示波形(伪波形)
图 4
3.6.3
图形显示 graphic format
用二维(X、Y) 图来表示所规定的数据、时间或其他因数的关系(见图5)。
注：数据图描述了状态幅度(Y)与状态顺序(X) 的函数关系。
style="width:7.18667in;height:3.99322in" />GB/T 15471—2013
FF
00
(x 轴状态顺序)
图 5
3.6.4
状 态 表 state table
表示在每次连续取样时，输入数据通道逻辑状态的表格。
注：该逻辑状态可以用二进制、八进制、十进制、十六进制、ISO 七值(ASCII)
码或助记符号来表示。
3.6.5
映象图 map
表示逻辑状态的一种矩阵格式，以便能用独特的图形来识别用户系统的工作状态(见图6)。
注：图形是以单独的点来描绘每个已存入的逻辑字，点的垂直位置与字的高半个字值成比例，点的水平位置与字的
低半个字值成比例。
style="width:7.80672in;height:4.58656in" />
图 6
3.7
反汇编分析 disassembly analyze
将采集到的数据按照被测系统CPU
的指令系统进行反汇编，并显示反汇编后得到的汇编语言程
序代码。
可按结构分为板卡式、外置式、台式(含便携式)等，应在产品标准中给出。
GB/T 15471—2013
逻辑分析仪的结构应完整，外观无明显机械损伤和镀涂破坏现象；各控制件均须安装正确、牢固可
靠、操作灵活。
应以宽(W) 高(H) 深(D) 的顺序给出逻辑分析仪的最大外形尺寸。
产品标准中应给出整机的重量或主机、插入单元、附属装置等分别的重量，以千克(kg)为单位。
有产品标准规定逻辑分析仪适用的供电电源类型，并给出电源电压和频率范围以及最大消耗功率。
由产品标准规定，预热时间一般应不超过30 min。
5.2.1.1 输入通道数
由产品标准规定数据通道和时钟通道的数量，数据通道数量一般为8的整数倍。
5.2.1.2 输入阻抗
由产品标准规定，通常要求输入电阻大于20 kΩ,输入电容小于15 pF。
5.2.1.3 输入电压范围
由产品标准规定， 一般应为±5 V。
5.2.1.4 最大输入电压
由产品标准规定。
5.2.1.5 门限
由产品标准规定门限种类、范围、最小步进、灵敏度与误差等指标。
5.2.1.6 通道时滞
有规定时，由产品标准规定。
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5.2.2.1 最大定时取样速率
由产品标准规定，并说明是否支持半通道扩展功能，若有应给出半通道下的最大定时取样速率。
5.2.2.2 定时取样速率范围与档位
由产品标准规定定时取样速率的可设置范围，即最大定时取样速率与最小定时取样速率；同时应给
出在此范围内取样速率档位变化， 一般采用1、2、5进制。
5.2.2.3 最大状态时钟速率
由产品标准规定。
5.2.2.4 **建立时间(t、
由产品标准规定最小建立时间。
5.2.2.5 保持时间(t
由产品标准规定最小保持时间。
5.2.2.6 最小时钟脉冲宽度
由产品标准规定。
5.2.2.7 最小可检测毛刺脉冲宽度
若有毛刺检测功能，由产品标准规定。
5.2.3.1 最大存储深度
由产品标准规定，并说明是否支持半通道或1/4通道扩展能力，若有应给出半通道或1/4通道时的
最大存储深度。
5.2.3.2 限定存储
若有此功能，由产品标准规定。
5.2.4.1 触发方式
应在产品标准中说明，通常应该具有字触发、边沿触发、毛刺触发、组合/序列触发、预触发/延迟触
发等。
5.2.4.2 延迟触发
5.2.4.2.1 数据延迟触发
若有此功能，由产品标准规定可设置的延迟范围。
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5.2.4.2.2 时间延迟触发
若有此功能，由产品标准规定可设置的延迟时间范围。
5.2.4.3 序列触发
由产品标准规定最大触发序列级数。
5.2.4.4 触发序列速度
由产品标准规定最大触发序列速度。
5.2.4.5 毛刺触发
若有此功能，由产品标准规定。
5.2.4.6 限定触发
若有此功能，由产品标准规定。
5.2.4.7 超时强制触发
在产品标准中说明是否具有该功能，若有应给出时间设置范围。
5.2.4.8 定时禁止触发
在产品标准中说明是否具有该功能，若有应给出时间设置范围。
5.2.4.9 外触发输入
在产品标准中说明是否具有外触发输入端子，并给出支持的电平标准(一般为
TTL)、 输入阻抗等。
5.2.4.10 触发输出
在产品标准中说明是否具有触发输出端子，并给出输出电平标准(一般为 TTL)、
输出阻抗等。
5.2.4.11 触发操作
在产品标准中说明是否具有操作的可选择能力，若有，给出可选择的操作方式。
由产品标准规定逻辑分析仪具有的接口功能，如 USB、GPIB、LAN 等。
在产品标准中说明是否具有此功能，若有，应给出支持的CPU 种类。
5.2.7.1 显示方式
在产品标准中明确给出支持的显示方式，
一般包括：状态表(数据列表)、定时图(伪方波)、映象
图等。
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5.2.7.2 显示器
若为台式，在产品标准中提供下述内容：
a) 显示器类型， 一般为 CRT 或 LCD;
b) 有效工作面：高(h)×宽(w);
c) 检验工作面：高(h)× 宽(w)。 注：单位为厘米(cm)或格(div)。
d) 分辨力。
e) 颜色，
一般为单色、伪彩色或真彩色。若为彩色，应给出最大颜色种类数量。
应符合GB/T 6587—2012 的规定。
除非另有规定，逻辑分析仪应至少进行以下的安全试验：
——接触电流试验；
——介电强度试验；
——保护接地试验。在产品标准中给出绝缘电阻、泄漏电流及试验电压的数值。
应符合GB/T 6587—2012
的要求，并由产品标准规定逻辑分析仪的环境组别和运输流通等级。
应符合GB/T 18268 的有关规定。
由产品标准规定平均故障间隔时间(MTBF)。
6.1.1
对逻辑分析仪的性能特性进行检测时，应按照产品标准规定的额定工作条件，并在不打开机箱
的情况下进行，若有特殊情况必须打开机箱才能测试时，应在产品标准中说明。
6.1.2
试验用的标准测试仪器和设备应经过计量部门检定合格，并应稳定可靠和处于有效期内。
6.1.3
试验室的环境条件(以下称为正常条件)若无特殊规定，应在下列测试用标准大气条件下进行：
a) 温度：15℃~30℃;
b) 相对湿度：25%～75%;
c) 气压：86 kPa～106 kPa。
检查逻辑分析仪的外观与结构时，采用观察法及手动操作法进行。
检查逻辑分析仪的外形尺寸时，用量器测量尺寸并与图纸核对的方法进行，并应符合
GB/T 15471—2013
GB/T 3047.6。
检查逻辑分析仪的重量时，用磅秤称其重量。
6.2.4 供电电源电压、频率和功率试验
6.2.4.1 供电电源电压和频率试验
按GB/T6587—2012 中5.12的规定进行。
6.2.4.2 电源消耗功率试验
在逻辑分析仪的额定电源电压下测量其电流，求得消耗功率。测试方法由产品标准具体规定。
应满足产品标准要求。
6.3.1.1 输入通道及通道数
6.3.1.1.1 测试方框图
测试方框图见图7。
style="width:9.74003in;height:3.27338in" />被测逻辑分析仪
数据发生器
数据输出 时钟输出
信号输入通道
探头
时钟输入延道
图 7
6.3.1.1.2 测试步骤
a) 连接数据发生器和逻辑分析仪；
b)
设置数据发生器输出信号幅度，使其满足逻辑分析仪输入电压范围的要求，在测试前可用示波
器验证信号幅度是否满足要求；
c) 逻辑分析仪设置适当的门限和取样速率；
d)
同时或逐步测试逻辑分析仪的所有通道，观察其显示波形，相应通道应有正确的波形显示；
e) 用目测法观察逻辑分析仪所有能够工作的通道数量。
GB/T 15471—2013
6.3.1.2 输入阻抗
6.3.1.2.1 测试方框图
测试方框图见图8。
style="width:9.5333in;height:2.03346in" />被测逻辑分析仪
探头
图 8
6.3.1.2.2 测试步骤
a) 连接阻抗测试仪和逻辑分析仪；
b) 逻辑分析仪处于开机状态，用阻抗测试仪测试输入电阻；
c)
逻辑分析仪处于开机状态，用阻抗测试仪测试输入电容(应扣除测试连接线的分布电容值)。
6.3.1.3 输入电压范围
6.3.1.3.1 测试方框图
测试方框图见图9。
style="width:9.69992in;height:2.03324in" />信号发生器
探头
图 9
6.3.1.3.2 测试步骤
a) 连接信号发生器和逻辑分析仪；
b)
设置信号发生器输出信号幅度与逻辑分析仪输入电压范围最大值一致，在测试前可用示波器
验证信号幅度是否满足要求；
c) 逻辑分析仪设置适当的门限和采样速率；
d) 观察显示波形，相应通道应有正确的波形显示。
6.3.1.4 最大输入电压
6.3.1.4.1 测试方框图
测试方框图见图10。
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style="width:9.77339in;height:1.99342in" />被测逻辑分析仪
探头
图10
6.3.1.4.2 测试步骤
a) 连接可调直流电压源和逻辑分析仪；
b)
设置直流电压源输出电压与逻辑分析仪最大输入电压一致，在测试前可用万用表验证电压是
否满足要求；
c) 使 S 闭合并持续1 min, 然后断开 S;
d) 按6.3.1.1测试方法测试，输入通道仍能正常工作。
6.3.1.5 门限
6.3.1.5.1 门限种类、范围、灵敏度
6.3.1.5.1.1 测试方框图
测试方框图同图9。
6.3.1.5.1.2 测试步骤
a) 连接信号发生器和逻辑分析仪。
b) 设置信号发生器输出信号为与相应数字电平标准(如 TTL、CMOS、ECL
等)一致的方波或脉
冲信号，同时逻辑分析仪门限选择相应的电平标准类型，应能采集并显示正确的波形。
c)
逻辑分析仪门限采用自定义门限设置方式，并将门限设置到最大值，调节信号发生器的输出。
当其输出信号高电平小于该最大门限值时，采集显示的波形为低电平，当信号发生器输出信号
高电平大于该最大门限值时，应能采集并显示正确的波形。
d)
逻辑分析仪门限采用自定义门限设置方式，并将门限设置到最小值，调节信号发生器的输出。
当其输出信号低电平大于该最小门限值时，采集显示的波形为高电平，当信号发生器输出信号
低电平小于该最小门限值时，应能采集并显示正确的波形。
e)
逻辑分析仪门限采用自定义门限设置方式，门限设置为一定值。信号发生器输出方波或脉冲
信号，信号的中心电平为门限设置电平。改变信号发生器输出信号的峰峰值，当峰峰值大于或
等于灵敏度时，应能采集并显示正确的波形。
6.3.1.5.2 最小步进、误差
6.3.1.5.2.1 测试方框图
测试方框图见图11。
GB/T 15471—2013
style="width:10.0333in;height:2.12674in" />被测逻辑分析仪
深头
测量端
图 1 1
6.3.1.5.2.2 测试步骤
a) 连接直流数字电压表和逻辑分析仪；
b) 逻辑分析仪采用自定义门限设置方式，门限设置为一
定值，用直流数字电压表测量门限电压
值，当门限设置作最小改变时，电压表测得的值改变量应小于或等于最小步进值；
c)
逻辑分析仪门限设置为一定值，用直流数字电压表测量门限电压值，则门限误差见式(2):
style="width:1.96006in;height:0.59334in" /> ………………………… ( 2)
式 中 ：
U。——门限的额定值，单位为伏(V);
U—— 直流数字电压表指示的电压值，单位为伏(V)。
6.3.1.6 通道时滞
6.3.1.6.1 测试方框图
测试方框图见图12。
style="width:10.60663in;height:4.80018in" />被测逻辑分析仪
脉冲信号发生器
示波器
CH1
CH2
CH1
CH2
信号输入通道
探 头
时钟输入通道
图 1 2
测试步骤
a) 连接脉冲信号发生器、示波器和逻辑分析仪；
b)
逻辑分析仪设置为状态分析模式，触发字中对应输入通道的位设置为"1",其余位设置为任意
态 "x";
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c)
用示波器观测脉冲信号发生器输出，调节脉冲信号发生器输出如图13波形。逐步减小输入数
据信号前沿超前时钟前沿的值，使逻辑分析仪仪器处于完成触发识别和不完成触发的临界点，
记录数据信号超前时钟的t值(如数据前沿滞后时钟前沿时，则此值记为负值);
d) 按上述方法逐个测试所有输入通道，上述记录的最大t值减去最小t
值的差，即为输入通道间 的时滞。
style="width:7.22003in;height:4.13336in" />
图13
6.3.2.1
最大定时取样速率、取样速率范围与档位
6.3.2.1.1 测试方框图
测试方框图同图9。
6.3.2.1.2 测试步骤
a) 连接信号发生器和逻辑分析仪；
b) 逻辑分析仪设置为定时分析方式，取样速率设置为最大；
c)
设置信号发生器输出为一定频率的脉冲波形，并设置脉宽大于该最大取样速率的一个周期并
小于该取样速率的两个周期；
d)
观察逻辑分析仪能否稳定捕捉并显示该脉冲波形，且该波形宽度为一个取样周期；
e)
逻辑分析仪设置为定时分析方式，取样速率按照产品标准规定的档位逐级设置直到最小定时
取样速率，并分别按照步骤 c)～d)测试，检查取样速率范围及档位。
6.3.2.2 最大状态时钟速率
6.3.2.2.1 测试方框图
测试方框图同图7。
6.3.2.2.2 测试步骤
a) 连接数据发生器和逻辑分析仪；
b)
逻辑分析仪设置为状态分析方式，并选用相应时钟通道输入的外时钟作为采集时钟；
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c)
数据发生器产生一定频率方波，逐步增加外时钟频率，观察逻辑分析仪是否触发，显示波形是
否正确。
6.3.2.3 建立时间和保持时间
6.3.2.3.1 测试方框图
测试方框图见图14。
style="width:10.65335in;height:6.44006in" />被测逻辑分析仪
脉冲信号发生器
频率计
CH 1
CH 2
信号输入通道
探头
时钟输入通道
示波器
CIJ 1
图14
6.3.2.3.2 测试步骤
a) 连接脉冲信号发生器、频率计、示波器和逻辑分析仪；
b) 逻辑分析仪设置为状态分析方式，时钟置“厂”,触发字置全“1”;
c) 用示波器观测脉冲信号发生器输出，调节脉冲信号发生器输出如图15(A)
波形，t、(建立时间) 应符合产品标准的规定值，t
(保持时间)应能满足产品标准的规定值；使仪器获取数据，应能
可靠地完成触发识别，检查显示应为全"1";
d) 逻辑分析仪时钟改置" ",调节脉冲信号发生器输出如图15(B)
波形，使仪器获取数据，应 能可靠地完成触发识别，检查显示应为全"1";
e) 逻辑分析仪时钟置为“
”,触发字改置全“0”,调节脉冲信号发生器输出如图15(C) 波形，使
仪器获取数据，应能可靠地完成触发识别，检查显示应为全"0";
f) 逻辑分析仪时钟改置"厂",调节脉冲信号发生器输出如图15(D)
波形，使仪器获取数据，应 能可靠地完成触发识别，检查显示应为全"0"。
GB/T 15471—2013
style="width:9.16042in;height:10.23333in" />
style="width:0.14003in;height:0.14674in" />
style="width:0.13326in;height:0.15994in" />
style="width:0.12665in;height:0.1133in" />
图 1 5
6.3.2.4 最小时钟脉冲宽度
6.3.2.4.1 测试方框图
测试方框图同图14。
6.3.2.4.2 测试步骤
a) 连接脉冲信号发生器、频率计、示波器和逻辑分析仪；
b) 逻辑分析仪置为状态分析方式，触发字置全"1",设置适当门限；
c)
调节脉冲信号发生器使数据、时钟输出幅度符合要求，调节时钟信号的脉宽为产品标准规定的
时钟最小脉宽，并保证产品标准规定的建立时间和保持时间；
d)
使逻辑分析仪获取数据，应稳定、可靠地完成触发识别，检查仪器显示应为全"1",时钟的正脉
冲、负脉冲应分别进行测试。
6.3.2.5 最小可检测毛刺脉冲宽度
6.3.2.5.1 测试方框图
测试方框图见图16。
GB/T 15471—2013
6.3.2.5.2 测试步骤
a) 连接脉冲信号发生器和逻辑分析仪；
b)
设置脉冲信号发生器输出与逻辑分析仪产品标准中给出的最小可检测毛刺脉冲宽度相同的脉
冲信号，频率为1 kHz;
c) 开启逻辑分析仪的毛刺识别与显示，观察能否正确捕捉并显示1 kHz
的毛刺信号。
style="width:10.44001in;height:2.67344in" />被测逻辑分析仪
探头
图 1 6
6.3.3.1 最大存储深度
6.3.3.1.1 测试方框图
测试方框图同图7。
6.3.3.1.2 测试步骤
a) 连接数据发生器和逻辑分析仪；
b)
逻辑分析仪设置为定时分析方式，设置适当的触发方式，存储深度设置为最大；
c) 数据发生器产生包含满足触发条件数据字的数据流；
d)
逻辑分析仪采集并列表显示结果，显示数据应与数据发生器输出数据流特征一致，存储的数据
量个数与设置的存储深度一致。
6.3.3.2 限定存储
6.3.3.2.1 测试方框图
测试方框图同图7。
6.3.3.2.2 测试步骤
a) 连接数据发生器和逻辑分析仪；
b) 逻辑分析仪设置为定时分析方式，设置适当的触发方式与限定条件；
c) 数据发生器产生包含满足触发和限定条件的数据流；
d)
逻辑分析仪采集并列表显示结果，采集到的数据应为满足限定条件的数据，存储的数据量个数
应与设置的存储深度一致。
6.3.4.1 触发方式
根据产品标准对相应的触发方式进行测试。
GB/T 15471—2013
6.3.4.2 延迟触发
6.3.4.2.1 数据延迟触发
6.3.4.2.1.1 测试方框图
测试方框图同图7。
6.3.4.2.1.2 测试步骤
a) 连接数据发生器和逻辑分析仪。
b)
使数据发生器输出数据流，数据流中有若干相同的特征字，为识别相同特征字在数据流中的位
置，每个特征字后面设置相互不同的数据。
c) 逻辑分析仪置为状态分析方式，延迟数置“0”。
d)
逻辑分析仪启动采集，数据发生器的数据流输出一次，仪器应完成触发识别。数据列表显示
中，在触发字位置的数据应为设置的触发特征字，触发字后面的数据量为M 个(M
与预触发设 定相关)。
e) 逻辑分析仪延迟数改置为 N,
启动采集，数据发生器重新输出一次，逻辑分析仪应完成触发识
别。数据列表显示中，在触发字位置前第 N
个数据应为设置的触发特征字，即触发特征字后 面的数据数量增加了N, 为M+N
个。
6.3.4.2.2 时间延迟触发
6.3.4.2.2.1 测试方框图
测试方框图同图7。
6.3.4.2.2.2 测试步骤
a) 连接数据发生器和逻辑分析仪；
b) 数据发生器输出数据流；
c)
逻辑分析仪置为定时分析方式，时间延迟置"0",触发字置为数据流中的某一特征字；
d)
逻辑分析仪启动采集，数据发生器的数据流输出一次，仪器应完成触发识别。数据列表显示
中，在触发字位置的数据应为设置的触发特征字，触发字后面的数据量为M 个(M
与预触发设 定相关);
e) 将时间延迟改置为 T,
逻辑分析仪启动采集，数据发生器将数据重新输出一次，仪器应完成触
发识别。数据列表显示中，在触发字位置前第 N(N=
T/取样周期)个数据应为设置的触发特 征字，即触发字后面的数据数量为M+(T/
取样周期)个。
6.3.4.3 序列触发
6.3.4.3.1 测试方框图
测试方框图同图7。
6.3.4.3.2 测试步骤
a) 连接数据发生器和逻辑分析仪；
GB/T 15471—2013
b) 逻辑分析仪置为状态分析方式，依次设置多级触发条件；
c)
设置数据发生器输出数据流中包含有逻辑分析仪设置的序列触发条件对应的特征数据；
d)
逻辑分析仪启动数据采集，应能完成触发识别。数据列表显示中，应依次显示与设置序列特征
字一致的数据流。
6.3.4.4 触发序列速度
6.3.4.4.1 测试方框图
测试方框图同图7。
6.3.4.4.2 测试步骤
a) 连接数据发生器和逻辑分析仪；
b) 逻辑分析仪置为状态分析方式，依次设置多级触发条件；
c)
设置数据发生器输出数据流中包含有逻辑分析仪设置的序列触发条件对应的特征数据，同时
调节相邻级触发字出现的时间间隔小于或等于最大触发序列速度的要求；
d) 逻辑分析仪启动数据采集，应能完成触发识别，并显示正确的数据流。
6.3.4.5 毛刺触发
6.3.4.5.1 测试方框图
测试方框图同图16。
6.3.4.5.2 测试步骤
a) 连接脉冲信号发生器和逻辑分析仪；
b) 逻辑分析仪置为定时分析方式，触发方式置毛刺触发，选择毛刺触发通道；
c) 脉冲信号发生器输出一定脉宽(小于取样时间间隔)及一定频率的脉冲；
d)
逻辑分析仪启动数据采集，当脉冲信号发生器无信号输出时，仪器处于等待状态；当脉冲信号
发生器输出毛刺脉冲时，仪器触发。如果开启毛刺显示，可以在该通道上观察到与脉冲信号相
同频率的毛刺。
6.3.4.6 限定触发
6.3.4.6.1 测试方框图
测试方框图同图7。
6.3.4.6.2 测试步骤
a)
连接数据发生器和逻辑分析仪，将被测触发限定通道输入端逐一与数据输入端连接；
b)
逻辑分析仪置为定时分析方式，触发限定通道的限定条件设置为数据发生器输出数据中的一
个字，数据通道触发字置任意态(“x”);
c)
逻辑分析仪启动数据采集，应完成触发识别，显示的数据列表应与数据发生器输出的数据流
一致。
GB/T 15471—2013
6.3.4.7 超时强制触发
6.3.4.7.1 测试方框图
测试方框图同图7。
6.3.4.7.2 测试步骤
a) 连接数据发生器和逻辑分析仪；
b) 逻辑分析仪置为定时分析方式，设置触发条件并设置超时强制触发的时间；
c)
逻辑分析仪启动数据采集，在超时时间要求内，数据发生器输出含触发字的数据流，应完成触
发识别，显示的数据列表应与数据发生器输出的数据流一致，且触发位置数据满足触发条件；
d)
逻辑分析仪启动数据采集，数据发生器输出不含触发字的数据流，逻辑分析仪不能触发，在超
时时间到后，逻辑分析仪强制触发，显示的数据列表应与数据发生器输出的数据流一致，触发
位置数据与触发条件无关。
6.3.4.8 定时禁止触发
6.3.4.8.1 测试方框图
测试方框图同图7。
6.3.4.8.2 测试步骤
a) 连接数据发生器和逻辑分析仪；
b)
逻辑分析仪置为定时分析方式，设置触发条件并设置定时禁止触发的要求时间；
c)
逻辑分析仪启动数据采集，在定时时间要求内，数据发生器输出含触发字的数据流，逻辑分析
仪不会触发；
d)
定时时间到后，数据发生器输出含触发字的数据流，逻辑分析仪应完成触发识别，显示的数据
列表应与数据发生器输出的数据流一致，且触发位置数据满足触发条件。
6.3.4.9 外触发输入、触发输出
6.3.4.9.1 测试方框图
测试方框图见图17。
6.3.4.9.2 测试步骤
a) 连接脉冲信号发生器、示波器和逻辑分析仪；
b) 仪器置为定时分析方式，触发方式置为外触发；
c) 设置脉冲信号发生器通道1(CH1) 输出一定频率的脉冲信号，通道2(CH2)
输出脉冲电平为 TTL 电平；
d)
逻辑分析仪启动数据采集，当脉冲信号发生器通道2无信号输出时，仪器处于等待状态；当脉
冲信号发生器通道2输出脉冲时，逻辑分析仪触发，定时图中在相应的输入通道上显示与脉冲
信号发生器通道1输出频率一致的波形；
e)
当逻辑分析仪启动数据采集后，可在示波器上观测到触发输出波形与脉冲信号发生器通道2
输出信号波形一致。
GB/T 15471—2013
style="width:10.63403in;height:4.89375in" />
图17
6.3.4.10 触发操作
根据产品标准对相应的触发操作功能进行检验。
根据产品标准对接口功能进行检验。
6.3.6.1 测试方框图
测试方框图见图18。
style="width:8.52007in;height:3.34664in" />被测逻辑分析仪
探头
图18
6.3.6.2 测试步骤
a) 连接被测微处理器系统和逻辑分析仪；
b)
逻辑分析仪置为状态分析方式，取样时钟为被测系统的总线时钟，触发字设置为某程序的入口
特征数据，相应的微处理器反汇编状态功能开启，启动数据采集；
c) 被测微处理器系统运行该程序；
d)
逻辑分析仪应能完成触发识别，检查反汇编程序显示窗口中显示的汇编程序应与微处理器运
行的程序一致。
采用直接观察方法进行。
GB/T 15471—2013
按GB/T 6587—2012 中5.8的试验方法进行。
按产品标准规定的环境级别和运输流通级别及GB/T 6587—2012
的试验方法进行。
按GB/T 18268 的试验方法进行。
按GB/T 11463—1989 的试验方法进行。
本标准规定的检验分为鉴定检验和质量一致性检验。
应符合GB/T 6587—2012 中5.2的规定。
应在产品标准中规定，并符合GB/T 6587—2012 中的规定。
检验项目应符合表1规定。
表 1 鉴定检验项目
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GB/T 15471—2013
表 1 ( 续 )
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GB/T 15471—2013
7.4.2.1 A 组检验
随机抽取5台样品进行。
7.4.2.2 B 组检验
在已通过 A 组检验的5台样品中进行。
7.4.2.3 C 组检验
在已通过 A 组和 B 组检验的样品中抽取3台进行。
7.4.2.4 D 组检验
在已通过 A 组和 B 组检验的样品中抽取1台进行。
7.4.2.5 E 组检验
在已通过 A 组和 B 组检验的样品中抽取1台进行。
7.4.2.6 F 组检验
在已通过 A 组和 B 组检验的样品上至少选取2台进行。
应符合GB/T 6587—2012 中6.3.3的规定。
应按表2中规定项目进行。
表 2 质量一致性检验项目
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|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
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GB/T 15471—2013
表 2 ( 续 )
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GB/T 15471—2013
7.5.2.1 抽样方案
每批产品均应按表2和产品标准的规定逐台进行，产品标准中应规定允许的轻缺陷数和重缺陷数。
7.5.2.2 合格判据
根据检验结果，累计缺陷数不超过产品标准的规定值时，则判批产品 A
组检验合格；若检验中出现
缺陷数累计超过产品标准的规定值时，拒收该批产品，允许修复后重新交付检验；不允许出现致命缺陷。
7.5.3.1 抽样方案
应符合GB/T 6587—2012 中6.4.3的规定。
7.5.3.2 合格判据
根据检验结果，按抽样方案判定，当缺陷数小于产品标准规定的不合格判定数时，则判
B 组检验合
格，将批中不合格品修复后继续试验；当缺陷数等于或大于产品标准规定的不合格判定数时，判该批产
品B 组检验不合格。
7.5.4.1 抽样方案
应符合GB/T 6587—2012 中6.4.4的规定。
7.5.4.2 合格判据
根据检验和试验结果，按抽样方案判明 C
组检验合格与否；当缺陷数小于产品标准规定的合格判 定数时，判C
组检验合格；允许将不合格品修复后进行试验；当缺陷数等于或大于产品标准规定的不合
格判定数时，则判C 组检验不合格。
7.5.5.1 抽样方案
D 组检验样品应从已通过 A 组和 B
组检验的产品中随机抽取，除非产品标准另有规定，其抽样与
C 组样品抽取方法相同。
7.5.5.2 合格判据
除非产品标准另有规定，与C 组检验合格判据相同。
电磁兼容性试验不合格应拒收该批产品。
7.5.6.1 抽样方案
应符合GB/T 6587—2012 中6.4.6的规定。
GB/T 15471—2013
7.5.6.2 合格判据
按产品标准中的规定，当缺陷不大于合格判定数时，则判 E
组检验合格。当缺陷数等于或大于合
格判定数时，则判 E 组检验不合格。
7.5.7.1 抽样方案
试验样品应在已通过 A 组和 B 组检验的产品中随机抽取。产品标准应按 GB/T
11463—1989 中
表3的规定选取样品数量。
7.5.7.2 合格判据
应符合 GB/T 11463—1989 中第7章和第8章的规定。
每一检验均应符合本标准和产品标准的要求，除非订购方另有许可，A 组至 F
组检验均应合格，则
质量一致性检验合格。
产品标志起码应具有下列内容：
a) 厂名、商标；
b) 型号、名称及出厂编号。
包装箱上起码应标志下列内容：
a) 厂名、商标、厂址；
b) 型号、名称；
c) 装箱年、月；
d) 毛重及包装箱的外形尺寸；
e) "怕雨"和"向上"等图示标志应符合 GB/T 191 的规定。
8.2.1
逻辑分析仪的包装应根据产品的具体情况，从简易包装、防雨包装、防潮包装、防震包装要求中，
由产品标准规定一种包装方法或者兼有几种要求的包装方法。
8.2.2 产品标准应对内包装物和外包装箱的材料作出具体规定。
8.2.3 产品标准应对产品随机文件作出规定，如：
a) 产品合格证；
b) 产品使用说明书；
c) 装箱单；
d) 随机备附件清单；
GB/T 15471—2013
e) 其他有关技术资料。
逻辑分析仪按规定装入包装箱后，可用各种无强烈振动的交通工具运输，运输中不应受雨、霜、雾直
接影响，按标志"向上"放置，并不受挤压、撞击等损伤。
包装好的逻辑分析仪应贮存在通风干燥、无腐蚀性气体的库房中。产品标准中还应规定贮存条件
和堆码高度。
更多内容 可以 GB-T 15471-2013 逻辑分析仪通用规范. 进一步学习